IC卡拔插壽命試驗(yàn)機(jī)針對(duì)IC卡材料進(jìn)行2500N以內(nèi)的拔插壽命、彎曲、反復(fù)彎曲、彎扭等力學(xué)性能試驗(yàn)。可根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)ISO.JIS.ASTM.DIN等標(biāo)準(zhǔn)和國(guó)外標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行試驗(yàn)和提供數(shù)據(jù)。試驗(yàn)數(shù)據(jù)可以任意刪加,對(duì)曲線操作更加簡(jiǎn)便.輕松.隨時(shí)隨地都可以進(jìn)行曲線遍歷.疊加.分離.縮放.打印等全電子顯示監(jiān)控。